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X射線衍射儀的應(yīng)用介紹

更新時(shí)間:2017-09-12       點(diǎn)擊次數(shù):7681
X射線衍射儀是對(duì)物質(zhì)和材料的組成和原子級(jí)結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對(duì)單晶、多晶和非晶樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)參數(shù)分析,如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數(shù)測(cè)定(晶體結(jié)構(gòu)分析)、多晶X-射線衍射的指標(biāo)化以及晶粒尺寸和結(jié)晶度的測(cè)定等。可地測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),如:物相定性與定量分析,衍射譜的指標(biāo)化及點(diǎn)陣參數(shù)。
 
應(yīng)用范圍:
 
工業(yè)用X射線衍射儀在當(dāng)今科技領(lǐng)域里用來(lái)分析各種物質(zhì)成分結(jié)構(gòu)的測(cè)試儀器已得到了廣泛的應(yīng)用。對(duì)材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來(lái)說(shuō),X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析,大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析;晶體物質(zhì)晶粒大小的計(jì)算;晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計(jì)算等。
 
使用范圍:
 
金屬材料:半導(dǎo)體材料、合金、超導(dǎo)材料、粉末冶金材料;無(wú)機(jī)材料:陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃;復(fù)合材料:碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物;有機(jī)材料:醫(yī)藥品、工程塑料、各種樹(shù)脂等。