xrf分析儀曲線漂移的原因分析：
　　1.要把漂移的原因搞清楚，是xrf分析儀（參數(shù)）原因還是環(huán)境（氣、電、溫度等）；
　　熔融法做類標，風險稍大，熔融法不象直讀光譜，標樣穩(wěn)定，且基體大多情況不一致。
　　2.雖說對于熔融法,類型標準化沒有什么理論根據(jù),但有時確實起到很好的效果,并不是不可用,但要確認儀器本身正常且穩(wěn)定。
　　對于校正xrf分析儀漂移的試樣,要看強度值有多高,如果單點校正的強度值過低,可能會出現(xiàn)較大的問題,單點漂移校正的強度接近曲線的上端強度,相對誤差會小一些,用兩點校正儀器漂移。
　　曲線有較大漂移時(儀器更換器件或其它因素引起,但儀器正常且穩(wěn)定),為了減少重做曲線的工作量,可以采用重校正來對原有曲線進行重校,效果也不錯,選擇原曲線上兩到四點,重熔片進行校正。
　　有時不同批次的熔劑,也會對分析中的某些元素產(chǎn)生影響,與熔劑中雜質(zhì)元素有關(guān)。
　　熔融樣品做標樣是可以的,但是要注意吸水問題,樣品在空氣中的氧化問題等。