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X射線衍射儀（XRD）是一種利用X射線衍射原理精確測定物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力的儀器。它的發(fā)展與應(yīng)用極大地推動(dòng)了多個(gè)領(lǐng)域的科技進(jìn)步。自1912年德國物理學(xué)家勞厄提出X射線衍射理論以來，X射線衍射技術(shù)不斷得到完善和發(fā)展。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，X射線衍射儀的精度和穩(wěn)定性得到了顯著提高，使得其在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。在材料科學(xué)領(lǐng)域，X射線衍射儀被用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、相變行為和應(yīng)力狀態(tài)。通過分析材料的衍射花樣，可以獲得關(guān)于晶體結(jié)構(gòu)、晶胞大小、原子排列等詳細(xì)信息，為材料的設(shè)計(jì)和優(yōu)化...

X射線衍射儀是一種重要的分析儀器，在多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。基于X射線衍射原理工作。當(dāng)X射線照射到物質(zhì)上時(shí)，會(huì)受到物質(zhì)中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波。這些散射波相互干涉，形成衍射現(xiàn)象。通過分析衍射結(jié)果，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力等信息。在使用X射線衍射儀時(shí)，可能會(huì)遇到一些常見問題，這些問題可能會(huì)影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。以下是一些常見的問題及其可能的解決方案：1、樣品準(zhǔn)備不當(dāng)：問題：樣品表面不平整或含有雜質(zhì)，可能會(huì)導(dǎo)致衍射峰形變寬或出現(xiàn)額外的峰。解決方案：確...

激光噴霧粒度儀是一種高精度的粒度分析儀器，基于激光散射原理工作。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時(shí)，顆粒會(huì)對激光產(chǎn)生散射。散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強(qiáng)度，可以得到顆粒的粒度分布信息。采用激光衍射技術(shù)測量噴霧劑滴液及噴霧劑顆粒粒度。當(dāng)激光束穿過噴霧時(shí)，通過測量散射光的強(qiáng)度來完成粒度測量。之后，所得數(shù)據(jù)用于分析計(jì)算形成該散射光譜圖的滴液粒度。激光噴霧粒度儀的操作技巧：1、光源選擇：氦氖激光器具有線寬窄、單色性好的特點(diǎn)，而半導(dǎo)體激...

納米粒度電位儀是一種專門用于測量納米級顆粒物粒度和電位的先進(jìn)儀器。其結(jié)合了激光散射技術(shù)和電泳光散射技術(shù)。當(dāng)激光通過儀器的樣品池時(shí)，激光會(huì)與顆粒物相互作用，產(chǎn)生散射光。散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒物的粒度和濃度密切相關(guān)。儀器通過測量散射光的光強(qiáng)和角度，可以計(jì)算出顆粒物的粒度。同時(shí)，納米粒度電位儀還會(huì)給顆粒物施加一個(gè)電場，利用電泳光散射技術(shù)測量顆粒物的泳動(dòng)速度，從而得出顆粒物的電位。納米粒度電位儀的維護(hù)方法：1、定期清洗：操作者需要定期清洗和消毒儀器操作界面和各電極表面，確保沒有殘留...

工業(yè)衍射儀是一種在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用的重要分析儀器，它主要通過衍射現(xiàn)象來獲取材料的晶體結(jié)構(gòu)信息。當(dāng)光（通常是X射線或中子束）通過物體表面或穿過物體時(shí)，會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象，即光波的傳播方向發(fā)生偏轉(zhuǎn)。工業(yè)衍射儀利用這種現(xiàn)象，通過單色光源照射樣品，并收集和解析樣品衍射產(chǎn)生的干涉圖案（即衍射圖樣），從而獲取材料的晶格參數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)等信息。工業(yè)衍射儀的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：1、X射線/中子發(fā)生器功能描述：X射線/中子發(fā)生器是工業(yè)衍射儀的核心部件，負(fù)責(zé)產(chǎn)生高能量的X射線或中子束。這些...